niceSCM
产线智能巡检平台

用边缘 AI 替代人工抽检,让扫码核验、外观检测与流程追溯
实现毫秒级判定、全链路可溯。

降低漏检风险 杜绝错料混料 检测数据实时上云
niceSCM 检测数据看板 检测数据看板 · 总览 / 通过率 / 检测趋势实时掌握
niceSCM 让您轻松管理产线检测,避免品质风险与数据遗漏

产线质检的三大隐性成本

人工判定标准不统一

不同班次的质检员经验不同,漏检、误判、重复抽检直接影响良率和交付节奏。

扫码核验依赖人工比对

料号、工单、批次信息靠人眼核对,错料混料风险高,一旦流入下游,返工成本巨大。

检测数据分散难追溯

各工位数据孤岛,异常发生时无法快速定位批次、工位和责任人,追溯以小时甚至天计。

核心功能

从工位到管理端,覆盖质检全链路

AI 视觉检测

基于边缘推理的外观缺陷、装配异常、标签识别,毫秒级输出 OK/NG 判定,无需中断产线节拍。

智能扫码核验

自动读取并比对工单、料号、批次信息,与 MES/ERP 联动,杜绝错料、混料、漏扫。

边缘端实时运行

推理模型下沉至产线边缘设备,低延迟、离线可用,网络波动不影响生产连续性。

多工位场景覆盖

封装、测试、组装、仓储等场景统一接入,一套平台管理多产线、多品类检测任务。

集中式管理后台

模型版本、检测任务、用户权限、设备状态一站式管理,支持跨厂区统一部署与运维。

数据可视化看板

实时良率、异常趋势、设备稼动率一目了然,异常自动告警,辅助快速决策。

架构与流程

从图像采集到管理看板,全链路清晰可控

产线工位
边缘客户端
niceSCM Server
管理看板
1 工位扫码或启动检测 2 边缘 AI 实时判定 3 数据汇聚看板,异常即时可见
从图像采集、模型推理到结果回写,全流程在秒级完成。检测记录、原始影像、判定日志按时间序列全量保存,满足半导体行业对可追溯性的严格要求。

客户案例

niceSCM 已帮助半导体封测企业实现质检自动化升级

半导体封测

扫码核验与工单比对

某头部半导体封测厂商

封装测试产线的料盘扫码与工单核对,人工效率低、夜班易出错,错料批次流入测试环节后返工成本高。

成果:扫码核验准确率 99.8% · 单件核对耗时 < 300ms · 错料事件下降 92%

数据与成效

用可量化的指标,衡量质检升级的真实收益

99.5%+
检测准确率
<300ms
单件判定耗时
80%+
异常响应提速
90%+
违规/错料拦截率

技术优势

一套架构,适配多种检测场景

无论是扫码核验、外观检测还是违规识别,都可快速配置,无需为每个场景单独开发。

插件化扩展机制

新检测场景接入周期以天计,不需要从头开发整套系统,降低产线改造风险和成本。

模型版本管理

模型族 + 版本化分发,支持持续迭代。新模型可在小范围验证后灰度发布到全部产线。

完整审计追溯

检测请求、判定结果、原始影像按时间序列全量保存,满足半导体行业对可追溯性和合规性的要求。

成熟技术底座

REST API v1、异步任务、多语言界面(i18n),便于与 MES、ERP、WMS 等现有系统无缝对接。

适用场景